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随着电子元器件可靠性水平的不断提高，采用常规的正常应力下的寿命试验实在太耗费人力、物力和时间了，有时甚至是不可能的。人们经过的实践，提出一种加速试验的方法来解决这一矛盾。

所谓加速寿命试验就是用加大应力的方法促使样品在短时期内失效,从而预测电子 产品在正常储存条件或工作条件下的可靠性。例如将器件置于比较髙的热、电等应力条 件下使之加速失效，并从中求出加速系数。这样就可以在较短时间内通过少量样品的髙 应力试验，推算出产品在正常应力下的可靠性水平,以供用户设计时参考,或作为工艺对 比及合理制定工艺筛选条件和例行试验规范的依据。同时，结合失效分析,还可以随时了 解造成产品不可靠的主要因素(主要失效模式和失效机理），并迅速反馈到有关设计或制 造部门加以改进及纠正。因此，加速寿命试验不仅节省了人力、物力和时间,并且结合失 效分析技术已发展成为控制、提髙半导体器件等电子元器件可靠性的一种行之有效的好 办法，所以国内外普遍采用。