balluff光学激光精密传感器
对小细节的可靠检测一直都是一大挑战。而我们的新型传感器则在这一方面表现出超越同行的性能。背景消隐漫反射型传感器产品系列的 BOS 21M 光电式高精度激光传感器,在所有检测任务中都有着出色的精度表现,充分彰显其诸多实用的附加功能。
不同的检测和处理模式让您能够准确检测哪怕是复杂的物体。激光精密传感器轻松应对复杂的应用,及其他传感器所不能及。
两种不同的传感器模式供您选择:
在背景消隐模式中,传感器针对要检测的物体示教,然后以高精度开展物体检测。
在背景处理模式中,学习背景。检测背景前方的物体。这就意味着,BOS 21M HPL 能够可靠地检测高度反光或闪耀的零件
得益于这两种传感器模式,您始终能够获得高的精度和可靠性。根据具体的检测对象,您可以使用 IO-Link 简单地切换到理想且可靠的检测方法以完成当前任务。
如果在杂散光较多的关键环境中使用传感器,智能环境光消隐功能能够带来更大程度的改善。传感器使用此功能来可靠滤除干扰和环境光,这样就能够防止虚假开、关以及由此引起的设备停机。
特点
即使在苛刻条件下,也能确保极的目标检测
背景消隐或背景评估,两种模式供您选择
在传感器中执行智能数据预处理
智能诊断
上一篇:在相同的检测范围下检测各类金属
下一篇:balluff光电测距传感器
版权与免责声明:凡本网注明“来源:全球工厂网”的所有作品,均为浙江兴旺宝明通网络有限公司-全球工厂网合法拥有版权或有权使用的作品,未经本网授权不得转载、摘编或利用其它方式使用上述作品。已经本网授权使用作品的,应在授权范围内使用,并注明“来源:全球工厂网”。违反上述声明者,本网将追究其相关法律责任。 本网转载并注明自其它来源(非全球工厂网)的作品,目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点或和对其真实性负责,不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。其他媒体、网站或个人从本网转载时,必须保留本网注明的作品第一来源,并自负版权等法律责任。 如涉及作品内容、版权等问题,请在作品发表之日起一周内与本网联系,否则视为放弃相关权利。
展开全部